c 基体
金属厚度每一种
仪器都有一个基体
金属的临界
厚度。大于这个
厚度，
测量就不受基体
金属厚度的影响。
d 边缘效应
本
仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行
测量是不可靠的。
e 曲率
试件的曲率对
测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上
测量是不可靠的。
f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的
数据。
g 表面
粗糙度基体
金属和覆盖层的表面
粗糙程度对
测量有影响。
粗糙程度增大，影响增大。
粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次
测量时，在不同位置上应增加
测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体
金属粗糙，还必须在未涂覆的
粗糙度相类似的基体
金属试件上取几个位置
校对
仪器的零点；或用对基体
金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再
校对
仪器的零点。
g 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h 附着物质
本
仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密
接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证
仪器测头和被
测试件表面直接
接触。
i 测头
压力测头置于试件上所施加的
压力大小会影响
测量的读数，因此，要保持
压力恒定。
j 测头的取向
测头的放置方式对
测量有影响。在
测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
2．使用
仪器时应当遵守的规定
a 基体
金属特性
对于磁性方法，标准片的基体
金属的磁性和表面
粗糙度，应当与试件基体
金属的磁性和表面
粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体
金属的电性质，应当与试件基体
金属的电性质相似。
b 基体
金属厚度检查基体
金属厚度是否超过临界
厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行
校准。
c 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行
测量。
d 曲率
不应在试件的弯曲表面上
测量e 读数次数
通常由于
仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一
测量面积内取几个读数。覆盖层
厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次
测量，表面粗造时更应如此。
f 表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
磁性法测厚受基体
金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体
金属具有相同性质的标准片对
仪器进行
校准；亦可用待涂覆试件进行
校准.
